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天大新成果填补微型LED晶圆无损测试技术空白近日,天津大学精密测试技术及仪器全国重点实验室、精仪学院感知科学与工程系黄显团队打破微型LED晶圆测试瓶颈,实现了微型LED晶圆高通量无损测试,研究成果于6月13日在电气领域期刊《自然-电子学》刊发。 据介绍,微型LED被广泛认为是下一代...
发布时间:8小时前Copyright © 2024 有趣生活 All Rights Reserve吉ICP备19000289号-5 TXT地图HTML地图XML地图